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Etiqueta: metrología

Inside Scoop de Inside Quantum Technology: relojes cuánticos y atómicos

Por Kenna Hughes-Castleberry publicado el 18 de noviembre de 2022 Si bien los humanos no son la única especie que mide el tiempo, en...

Revisión semanal de SpicyIP (del 8 de noviembre al 15 de noviembre)

Hemos tenido una semana ocupada en SpicyIP con muchos desarrollos de IP dentro y fuera del blog. A continuación, encontrará nuestra rápida...

¿Qué tan indistinguibles son los fotones indistinguibles? El nuevo interferómetro óptico le pone un número

En una muestra de fotones indistinguibles, ¿qué tan indistinguibles son? Un equipo internacional de científicos ha respondido ahora a esta pregunta...

Flujo de proceso FEOL Nanosheet y desafíos que requieren soluciones de metrología (IBM Watson)

Nuevo documento técnico titulado "Revisión de oportunidades de metrología de nanoláminas para la preparación tecnológica", de investigadores de IBM Thomas J. Watson Research Ctr. (Estados Unidos). Resumen (parcial): “Más...

Técnica de reflectometría LHSI de alto rendimiento para mediciones ICU e IWU de dispositivos semiconductores

Nuevo documento técnico titulado "Hacia la realización de una técnica de imagen hiperespectral de alto rendimiento para la metrología de dispositivos semiconductores", de investigadores de Samsung Electronics Co. Resumen "Antecedentes: Metrología tridimensional de alto rendimiento...

Innovación en interferometría óptica: el secreto del éxito en el control de calidad del nanoposicionamiento

El especialista en nanoposicionamiento de Queensgate y el Laboratorio Nacional de Física (NPL) del Reino Unido han forjado una colaboración productiva que ha producido un modelo de implementación de buenas prácticas para la prueba interna de Queensgate...

Se lanza grabado altamente selectivo para chips de próxima generación

La fabricación de estructuras 3D requerirá un control a nivel atómico de lo que se elimina y lo que permanece en una oblea.

El puesto Se lanza grabado altamente selectivo para chips de próxima generación apareció por primera vez en Ingeniería de semiconductores.

Cambios fundamentales en los procesos de fabricación de circuitos integrados

El énfasis cambia de la velocidad a la confiabilidad y la personalización, lo que ralentiza varios pasos del proceso y cuándo se realizan; el equipo dejado de lado gana tracción.

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