En un chip DRAM, el diseño de características fuera del conjunto de celdas puede ser tan desafiante como aquellas dentro del propio conjunto. Mientras...
Los defectos estocásticos en la litografía EUV se han estudiado en los últimos años. Durante años, el ruido de Poisson de la baja densidad de fotones de...
La litografía ultravioleta extrema (EUV) apunta a tonos de patrones por debajo de 50 nm, que está más allá de la resolución de un sistema de litografía de inmersión sin patrones múltiples. En...
