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Etiqueta: SPIE

Evaluación de las capacidades físicas de los pacientes con sarcopenia mediante el análisis de la marcha y una plantilla inteligente para el desarrollo de biomarcadores digitales – Informes científicos

Santilli, V., Bernetti, A., Mangone, M. & Paoloni, M. Definición clínica de sarcopenia. clin. Minero de Casos. Metab óseo. 11, 177–180 (2014). PubMed PubMed Central...

Introducción a la litografía EUV – Semiwiki

Los sistemas de litografía ultravioleta extrema (EUV) son los sistemas de litografía más avanzados que se utilizan en la actualidad. Este artículo es una introducción básica a este importante pero...

SPIE 2023 – imec Preparándose para EUV High-NA – Semiwiki

En febrero se llevó a cabo la Conferencia de Litografía Avanzada SPIE. Recientemente tuve la oportunidad de entrevistar a Steven Scheer, vicepresidente de procesos de creación de patrones avanzados...

Nova Ltd (NVMI) Transcripción de la llamada de ganancias del primer trimestre de 1 | calle alfa

Llamada de ganancias de Nova Ltd (NASDAQ: NVMI) Q1 2023 con fecha de mayo. 11 de enero de 2023. Participantes corporativos: Miri Segal, directora ejecutiva MS-IR Gabi Waisman, presidente y directora ejecutiva Dror David, director financiero Analistas: no identificado...

Comprobaciones de realidad para EUV de alta NA para nodos de 1.x nm

El nodo "1.xnm" en la mayoría de los mapas de ruta para indicar un paso de línea de metal de 16-18 nm. Se puede esperar que el espacio de centro a centro sea como...

Jes Broeng, Director DTU Entrepreneurship, DTU hablará en IQT Nordics del 6 al 8 de junio de 2023

Por Sandra Helsel publicado el 24 de marzo de 2023 Jes Broeng, Director DTU Entrepreneurship, DTU hablará en IQT NordicsJes...

Láseres sintonizables y láseres de femtosegundo de Hübner Photonics

Este breve video filmado en la reunión Photonics West 2023 presenta a Martin Ruge de Hübner Photonics, quien presenta el C-WAVE de la compañía...

Límites de resolución de litografía: la función de dispersión de puntos

La función de dispersión de puntos es la métrica básica que define la resolución de un sistema óptico. Un punto enfocado tendrá un diámetro definido...

PNL multietiqueta: un análisis de los enfoques de desequilibrio de clase y función de pérdida

El NLP de múltiples etiquetas se refiere a la tarea de asignar múltiples etiquetas a una entrada de texto determinada, en lugar de solo una etiqueta. En las tareas tradicionales de PNL,...

Análisis más preciso y detallado de defectos de semiconductores en imágenes SEM utilizando SEMI-PointRend

Investigadores de imec, Universidad de Ulsan, publicaron (preimpresión) un artículo técnico titulado "SEMI-PointRend: clasificación y segmentación mejoradas de defectos de obleas de semiconductores como representación".

Tecnologías de detección del grupo Tibidabo

Industrias Científicas del Tibidabo está formada por cinco empresas: Lambert Instruments, Photek, Photonic Science and Engineering, Scintacor y Precision X-ray. Juntos, como el...

Avantes lanza su nuevo espectrómetro Pacto

En este video filmado en la reunión Photonics West 2023 en San Francisco en enero, Damon Lenski, gerente general de EE. UU. de...

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